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专利名称：一种半封装堆叠晶片检测分类装置专利类型：发明专利发明人：黄梓泓
申请号：CN2019108174.5申请日：20190912公开号：CN1105444A公开日：20191206
摘要：本发明属于晶片检测技术领域，具体的说是一种半封装堆叠晶片检测分类装置，包括压接机构，所述压接机构包括可升降的下压杆，所述下压杆底端连接一个内部具有检测晶片的下压治具组，所述压接机构下方设有调整机构，所述调整机构包括底板，所述底板顶端固定有检测座，所述底板顶端固定有两个推杆电机，所述推杆电机对称分布在检测座的两端，两个所述推杆电机的输出轴端均固定有推板；本发明通过设置有限位筒和压板等结构，通过推杆电机直接带动压板移动，配合推杆电机间接带动限位筒移动，能对半封装堆叠晶片的位置进行检测和，让半封装堆叠晶片能处于正确的检测位置，提高晶片的检测效率。
申请人：深圳市联润丰电子科技有限公司
地址：518000 广东省深圳市龙华新区大浪办事处浪口社区华霆路122号2楼201
国籍：CN
代理机构：广州高炬知识产权代理有限公司
代理人：刘志敏
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