专利内容由知识产权出版社提供
专利名称：一种斜视SAR的点目标分辨率评估方法专利类型：发明专利发明人：孙兵,陈杰,李威申请号：CN200910081387.7申请日：20090403公开号：CN101545969A公开日：20090930
摘要：本发明公开了一种斜视SAR的点目标分辨率评估方法。该评估方法通过二维插值、剖面数据提取、分辨率指标计算三步完成，首先对局部点目标数据进行二维插值，然后绘制二维插值结果的功率值等高线投影图，通过交互方式确定距离向和方位向的倾斜角度，并沿着倾斜角度方向在二维插值结果复数数据矩阵中分别提取距离向剖面数据和方位向剖面数据，并根据公式(6)和(7)计算距离向和方位向分辨率。该方法主要解决了由于倾斜剖面提取不准造成分辨率测量误差的问题。本发明的主要特点：(1)本发明提供的方法可以在距离向和方位向剖面不垂直的条件下仍然能得到较准确的剖面曲线；(2)本发明提供的方法在获得更准确的剖面曲线后并按照公式(6)和(7)计算得到的分辨率更准确，更能反映SAR点目标的实际分辨率指标。
申请人：北京航空航天大学
地址：100191 北京市海淀区学院路37号
国籍：CN
代理机构：北京汇信合知识产权代理有限公司
代理人：翟国民
更多信息请下载全文后查看