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专利名称：一种链路质量测量的方法、装置以及系统专利类型：发明专利发明人：韦先霜
申请号：CN201610875513.6申请日：20160930公开号：CN1078132A公开日：20180406
摘要：本发明公开了一种链路质量测量的方法、装置以及系统，涉及通讯技术领域，其方法包括：客户侧在发起链路质量测量时，向服务侧发送用于协商测试发送端的哪个链路聚合子端口为测试发送端口以及测试反射端的哪个链路聚合子端口为测试反射端口的协商报文；客户侧根据来自所述服务侧的应答报文，得到通过所述协商确定的所述测试发送端口和所述测试反射端口；测试发送端利用所述测试发送端口向测试反射端发送测试报文，并根据测试反射端利用所述测试反射端口返回的测试应答报文，对所述测试发送端所连接的链路和所述测试反射端所连接的链路进行链路质量测量。
申请人：中兴通讯股份有限公司
地址：518057 广东省深圳市南山区高新技术产业园科技南路中兴通讯大厦
国籍：CN
代理机构：北京元本知识产权代理事务所
代理人：秦力军
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